Rowaco – Laboratorieutrustning och service för forskning och industri

Tillbehör

Provhållare

Micro to Nano™ EM-Tec provhållare för SEM

Micro to Nano EM-Tec serien av provhållare för SEM omfattar ett brett utbud av hållare som gör det enklare och snabbare att montera prover direkt i SEM.

Proverna hålls på plats genom fastspänning mellan käftar eller med skruvar. När provet är korrekt fastsatt förhindras rörelser, vilket förbättrar den rumsliga upplösningen vid både avbildning och analys. EM-Tec SEM-provhållare ger inga problem med avgasning eller kontaminering. Samtliga EM-Tec SEM-provhållare med M4-gängat hål är fullt kompatibla med EM-Tec SEM stage adapters.

Det omfattande sortimentet:

Vinkel- och tilthållare

EM-Tec variabla tilthållare och förtiltade hållare är användbara för avbildning av prover med en förinställd lutningsvinkel utan att behöva luta SEM-scenen. Med dessa hållare kan tidigare monterade prover på standard pin-stubs eller Hitachi-stubs avbildas i förinställda vinklar eller valfri önskad vinkel.

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec förtiltade och variabla tilthållare:

Bulkhållare för SEM-prover

EM-Tec bulkprovhållare är utformade för att hålla oregelbundet formade och skrymmande prover. Hållarna finns i rektangulärt eller runt utförande och är utrustade med fästen och skruvar som håller provet säkert på plats.

EM-Tec GB16 – Rektangulär bulkprovhållare med två sidofästen för provtjocklekar upp till 16 mm. Tillverkad av mässing med 1 µm tjock guldplätering. Idealisk för mindre prover och mindre SEM-system.
EM-Tec B26 – Rektangulär bulkprovhållare med två sidofästen för provtjocklekar upp till 26 mm. Tillverkad av vakuumklassad aluminium.
EM-Tec B38 – Rektangulär bulkprovhållare med två sidofästen för provtjocklekar upp till 32 mm. Tillverkad av vakuumklassad aluminium.
EM-Tec B52 – Rektangulär bulkprovhållare i mellanstorlek med två sidofästen för provtjocklekar upp till 52 mm. Tillverkad av vakuumklassad aluminium.
EM-Tec V80 – Stor rektangulär bulkprovhållare med två flyttbara sidofästen för prover upp till 80 mm breda. Tillverkad av vakuumklassad aluminium.
EM-Tec V120 – Extra stor rektangulär bulkprovhållare med två flyttbara sidofästen för prover upp till 120 mm breda. Tillverkad av vakuumklassad aluminium.
EM-Tec GR20 – Rund bulkprovhållare med tre fästen för runda och oregelbundet formade prover upp till Ø20 mm. Tillverkad av mässing med 1 µm tjock guldplätering. Idealisk för mindre prover och mindre SEM-system.
EM-Tec R32 – Rund bulkprovhållare med tre fästen för runda och oregelbundet formade prover upp till Ø32 mm. Kan även användas som hållare för metallografiska ingjutningar på 30 mm (1¼"). Tillverkad av vakuumklassad aluminium.
EM-Tec R51 – Rund bulkprovhållare med tre fästen för runda och oregelbundet formade prover upp till Ø51 mm. Kan även användas som hållare för metallografiska ingjutningar på 50 mm (2"). Tillverkad av vakuumklassad aluminium.
EM-Tec R98 – Universell stor bulkprovhållare med fyra monteringspelare på en Ø117 mm pin-platta. Monteringspelarna kan placeras om för att passa stora och oregelbundet formade prover upp till 98 mm i diameter. Tillverkad av vakuumklassad aluminium med tumskruvar i rostfritt stål.

Centrerande skruvstyckshållare

EM-Tec CV1 är en stor centrerande skruvstyckshållare för SEM som alltid håller provet fastspänt i hållarens centrum. De båda käftarna rör sig samtidigt mot eller från mitten, vilket säkerställer att provet alltid centreras. Hållaren är utrustad med två bottenplattor där käftarna kan flyttas för optimal anpassning till olika provstorlekar. Den dubbla skruvspindeln i mässing är placerad under bottenplattorna och har räfflade handtag i båda ändar, vilket gör att den kan manövreras från båda sidor.

Egenskaper hos EM-Tec CV1 centrerande skruvstyckshållare:

Ger ett stadigt grepp om stora och tunga prover
Håller automatiskt provet centrerat på SEM-scenen
Underlättar navigering från SEM-scenens centrum
Flyttbara skruvstyckskäftar på bottenplattan för optimal provanpassning
Standard klämområde från 0 till 110 mm
Spindelförlängningen kan tas bort för att minska hållarens totala storlek
Tillval med förlängda bottenplattor som ökar klämområdet till 0–155 mm
Standardkäftar med trippelspår på ena sidan och slät yta på den andra
Tillval med käftar som har ett 120° V-spår för runda prover

1- Provhållare stängd (upp till 110 mm)
2- Provhållare öppen (upp till 110 mm)
3- Provhållare i förlängt utförande, stängd
4- Provhållare i förlängt utförande, öppen

TSB 12-000202 – EM-Tec CV1 stor centrerande skruvstyckshållare

Kompakta och universella skruvstyckshållare

Skruvstycksbaserade provhållare är snabba och enkla att använda. Provet hålls fast genom att spännas mellan de rörliga käftarna, vilket möjliggör snabb provladdning och minskar stilleståndstiden. De är särskilt användbara när liknande prover eller serier av samma prov ska undersökas.
EM-Tecs kompakta och/eller fjäderbelastade SEM-provhållare omfattar:

EM-Tec V22 – Kompakt skruvstyckshållare för provstorlekar från 0–22 mm. En fast käft och en spindeldriven rörlig käft. En kostnadseffektiv hållare som kan användas i både standard-SEM och bords-SEM. Tillverkad av vakuumklassad aluminium med mässingsspindel och skruvar i rostfritt stål.
EM-Tec MV22 – Kombinerad kompakt skruvstyckshållare (0–22 mm) och hållare för upp till fem standard 12,7 mm pin-stubs. Utvecklad för bords-SEM och SEM-system med mindre provkammare. En fast käft och en spindeldriven rörlig käft. Tillverkad av vakuumklassad aluminium med mässingsspindel och skruvar i rostfritt stål.
EM-Tec 3V22 – Trippel kompakt skruvstyckshållare med tre individuellt justerbara EM-Tec V22-hållare på en gemensam bottenplatta. Gör det möjligt att undersöka tre olika prover samtidigt och minskar behovet av ventilering och pumpning av SEM. Tillverkad av vakuumklassad aluminium med mässingsspindlar och skruvar i rostfritt stål.
EM-Tec VS8 – Mini skruvstyckshållare med enkelverkande fjäder för prover med en maximal klämöppning på 8 mm. Skruvstycket öppnas genom att dra i den rörliga käften. Idealisk för snabb laddning av tunna tvärsnitt. Basens dimensioner är Ø25 × 12,5 mm. Tillverkad av vakuumklassad aluminium med stänger och fjädrar i rostfritt stål.
EM-Tec VS12 – Kompakt enkelverkande fjäderbelastad skruvstyckshållare för prover med en maximal klämöppning på 12 mm. Skruvstycket öppnas med en tryckstång som kan tas bort när hållaren placeras i SEM. Styrstift kan monteras i de fasta och rörliga käftarna för att öka öppningen till upp till 18 mm eller för att hålla oregelbundet formade prover. Fyra styrstift ingår. Tillverkad av vakuumklassad aluminium med stänger och fjädrar i rostfritt stål.
EM-Tec VS26 – Kompakt dubbelverkande fjäderbelastad skruvstyckshållare för prover med en maximal klämöppning på 26 mm. Tack vare den dubbelsidiga fjädern fungerar den som en centrerande hållare. Käftarna öppnas med tryckstänger som kan tas bort när hållaren används i SEM. Styrstift kan monteras för att öka öppningen till upp till 34 mm eller för att hålla oregelbundet formade prover. Fyra styrstift ingår. Tillverkad av vakuumklassad aluminium med stänger och fjädrar i rostfritt stål.
EM-Tec VS43 – Universell dubbelverkande fjäderbelastad större skruvstyckshållare med maximal käftöppning på 42 mm. Olika typer av käftar kan monteras. Skruvstycket öppnas genom att dra isär käftarna. Styrstift kan monteras i mässingssliden för att öka öppningen och för att hålla oregelbundet formade prover. Med styrstiften kan skivor upp till 50 mm i diameter hållas. Fyra styrstift ingår. Levereras med käftar som har trippelspår på ena sidan och slät yta på den andra.

EM-Tecs skruvstyckshållare finns både med standard pin-fäste och med M4-gängat monteringshål.

Specifikationer för EM-Tecs kompakta och universella skruvstyckshållare:

C-Square multihållare för pin-stubs

EM-Tec C-Square multihållare för pin-stubs är i första hand utformade för att hålla flera Ø12,7 mm och/eller Ø25,4 mm pin-stubs med standard pin-diameter på 3,2 mm. Även större eller mindre pin-stubs kan användas. Hållarna ger optimal täckning av SEM-scenens X- och Y-rörelser och möjliggör enkel orientering med hjälp av de kvadratiska sidorna och de ingraverade referenslinjerna i X- och Y-led. För snabb och enkel isättning och utbyte av pin-stubs används ledande O-ringar som håller stubbarna säkert på plats samtidigt som de ger elektrisk kontakt.

EM-Tec C-Square multihållare finns i sju storlekar:

EM-Tec CS9/4 – För 9 × Ø12,7 mm eller 4 × Ø25,4 mm pin-stubs
EM-Tec CS16/4 – För 16 × Ø12,7 mm eller 4 × Ø25,4 mm pin-stubs
EM-Tec CS18/6 – För 18 × Ø12,7 mm eller 6 × Ø25,4 mm pin-stubs
EM-Tec CS25/4 – För 25 × Ø12,7 mm eller 4 × alternativt 9 × Ø25,4 mm pin-stubs
EM-Tec CS36/9 – För 36 × Ø12,7 mm eller 9 × Ø25,4 mm pin-stubs
EM-Tec CS49/9 – För 49 × Ø12,7 mm eller 9 × Ø25,4 mm pin-stubs
EM-Tec CS64/16 C-Square multi pin stub holder for 64 x Ø12.7mm or 16 x Ø25.4mm pin stubs

Egenskaper och fördelar:

Ledande O-ringar för snabb och enkel montering och byte av pin-stubs
Kompatibla med standard pin-stubs och korta Zeiss pin-stubs med 3,2 mm pin-diameter
Kvadratisk design optimerad för SEM-scenens X- och Y-rörelser
Referenspunkt i övre högra hörnet
Enkelt programmerbara positioner
Alfanumerisk positionsidentifiering
Ingraverade orienteringslinjer för enkel X/Y-justering
Fullt kompatibla med alla EM-Tec SEM-scenadaptrar
Idealisk för automatiserad SEM/EDX-partikelanalys och GSR-analys
Lämpliga för korrelativ och corroborativ mikroskopi

Specifikationer för EM-Tec C-Square multihållare för pin-stubs:

EBSD-provhållare

Alla EM-Tec EBSD förtiltade provhållare har en 70° förtiltningsvinkel för att underlätta EBSD-analys. Med en 70° förtiltning behövs ingen lutning av SEM-stadiet. Användning av 70° förtiltade hållare i stället för att luta SEM-stadiet ger tydliga fördelar:

Korrekt EBSD-vinkel vid provinladdning
Ingen Z-drift i scenen
Val mellan 70° eller 20° förtilt

EM-Tec EBSD provhållarkit kombinerar flera olika EM-Tec SEM-provhållare: metallografiska hållare, geologiska slide-hållare, små skruvstyckshållare och S-Clip-hållare. Dessa kombineras med EBSD 70° förtilthållare och vid behov en höjdadapter. EM-Tec P70 och H70 förtilthållare inkluderar både 70° och -20° förtilt för att möjliggöra EBSD-mätning vid 90° vinkel på samma prov.

EM-Tec EBSD 70° förtilthållare finns med pin- eller M4-fäste. Tillgängliga EM-Tec EBSD provhållare och kit med 70° förtiltvinkel är:

EM-Tec P70 / H70 – EBSD-hållare för pin-stubs och pin-stub-baserade hållare, pin / M4
EM-Tec P70M / H70M – EBSD-hållare för Hitachi M4-stubs och M4-gängade hållare, pin / M4
EM-Tec P71 / H71 – EBSD-kit för 25 mm (1”) metallografiska ingjutningar, pin / M4
EM-Tec P72 / H72 – EBSD-kit för 30 mm (1¼”) metallografiska ingjutningar, pin / M4
EM-Tec P73 / H73 – EBSD-kit för upp till 48 × 28 mm geologiska slides, pin / M4
EM-Tec P74 / H74 – EBSD-kit för FIB-lameller, pin / M4
EM-Tec P75 / H75 – EBSD S-clip-kit för Si-chip och tunna prover, pin / M4
EM-Tec P76 / H76 – EBSD mini-skruvstycke för tvärsnitt upp till 4 mm, pin / M4
EM-Tec P77 / H77 – EBSD mini delat skruvstycke för tvärsnitt upp till 8 mm, pin / M4
EM-Tec P78 / H78 – EBSD skruvstyckshållare för prover upp till 16 mm, pin / M4
EM-Tec TE1 – t-EBSD hållare för en enda TEM/FIB lift-out grid, pin / M4
EM-Tec TE3 – t-EBSD hållare för tre TEM/FIB lift-out grids, pin / M4

EBSD-3D-hållare FEI/Thermo

EBSD-3D provhållaren för FEI / Thermo DualBeam FESEM/FIB-system möjliggör FIB-fräsning av provet och efterföljande insamling av EBSD-data. Genom att upprepade gånger rotera provet 180° mellan fräsposition och EBSD-mappningsposition kan 3D EBSD-mappningsdata samlas in. Hållaren ska användas med FEI EBS3-programvara och FEI / Thermo DualBeam-system.
EBSD-3D-hållaren kan användas för att analysera antingen provets yta eller ett tvärsnitt. Vinklarna på EBSD-3D-hållaren är 54° (kort fasett) och 36° (lång fasett). Hållaren monteras i centrum av provstadiet med M6-fingänga. Provstadiet ska ställas in på 16° lutning.

För analys av tvärsnitt ska provet monteras på den korta fasetten. Med 16° förtilt motsvarar detta 36° + 16° = 52° lutning; tvärsnittet är då vinkelrätt mot FIB-kolonnen. När EBSD-3D-hållaren roteras 180° är den frästa provytan sedan i 70° vinkel (54° + 16°) för EBSD-datainsamling.
För analys av större ytor ska provet monteras på den långa fasetten. Med 16° förtilt motsvarar detta 36° + 16° = 52°; provytan är då vinkelrät mot FIB-kolonnen. När hållaren roteras 180° är den frästa ytan i 70° vinkel (54° + 16°) för EBSD-datainsamling.

Tillverkad av vakuumklassad aluminium. Utvecklad i samarbete med FEI EBS3-användare.

FIB-gridhållare

EM-Tec FIB-gridhållare är utformade för att hålla FIB-grids och ge enkel åtkomst till stolparna på gridsen för att fästa FIB lift-out lameller. Hållarna kan användas i FIB/SEM-system men även för säker förvaring av FIB-grids med monterade lameller. De är kompakta och placerar FIB-grids direkt intill en standard SEM pin-stub med prov, vilket gör att överföringsavståndet för lameller blir mycket kort. Alla EM-Tec FIB-gridhållare är precisionsbearbetade i vakuumklassad aluminium.

EM-Tec F12 – Grundläggande hållare för 2 FIB-grids. Baserad på Ø12,7 mm pin-stub. Kompakt och kostnadseffektiv. 10 mm bred skruvstycksklämma med en kant för positionering. Finns med standard pin och kort Zeiss-pin (F12Z).
EM-Tec F18 – Högkapacitets hållare för upp till 8 FIB-grids med 4 individuella klämmor. Bygger på 4× F12 på en 25,4 mm (1”) stub. Varje klämma har en positioneringskant. Lämplig för lagring och hög genomströmning.
EM-Tec F25 – Större hållare för upp till 5 FIB-grids med samma tjocklek. 25 mm bred klämsektion med positioneringskant och två mässings-tumskruvar. Finns med pin och M4-fäste.
EM-Tec FS21 – Kombinerar F12 FIB-hållare med två 12,7 mm pin-stubs. Kan roteras för optimal orientering i FIB/SEM. Möjliggör nära placering av prov och FIB-grids. Samma nivå vid Si-wafer-prover. Finns med pin och M4.
EM-Tec FS22 – Två F12 FIB-hållare + två pin-stubs i en kompakt 27×27 mm layout. Alla delar kan roteras oberoende för optimal orientering. Samma nivå mellan prov och grids.
EM-Tec FS25 – Kombinerar bred FIB-gridskruvstycke med hållare för Ø25,4 mm pin-stubs i en enhet. Möjliggör samtidig laddning av prov och grids. Provyta och grid-post ligger på samma höjd. Finns med pin och M4.

Alla dessa hållare kan användas i FIB- och FIB/SEM-system från FEI, Hitachi, Zeiss och Tescan. För JEOL-system krävs lämplig EM-Tec stub-adapter.

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec FIB-gridhållare och FIB grid sample holders:

Filterdiskhållare

EM-Tec filterdiskhållare är utvecklade för att hålla plana filterdiskar för att möjliggöra SEM/EDS-analys. Hållarna består av två delar: en plan basplatta som håller filterdisken och ett lock som fungerar som en klämring för att hålla filtret plant mot basen. Locket fixeras med tre skruvar på sidan av basplattan. Basplattan och klämringen är tillverkade av vakuumklassad aluminium, och skruvarna är i rostfritt stål.

EM-Tec filterdiskhållare finns för filterstorlekar på 13, 25, 35 och 47 mm. Anpassade diametrar kan tillverkas på begäran. Lockets kant har en 45° vinkel för att minimera bidrag av aluminium i EDS-spektrum. Hållarna möjliggör SEM/EDS-analys av partiklar, fibrer och debris på filter.

De finns med följande fästen:

Standard pin – kompatibel med SEM från FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, ETEC och Novascan
M4-gängat hål – kompatibelt med Hitachi SEM, FESEM, bords-SEM samt EM-Tec stage-adaptrar
Ø14 mm JEOL-stub – kompatibel med JEOL SEM och EM-Tec adaptrar med Ø14 mm anslutning

Kapacitet och dimensioner för EM-Tec filterdiskhållare:

Geologiska tunnslipshållare

EM-Tec geologiska tunnslip- eller petrografiska slide-hållare är särskilt utformade för att säkert hålla geologiska tunnslip på petrografiska glas för SEM-, EPMA- eller specialiserad mineralanalys. De används för SEM/EDS-analys inom geologi, mineralogi och petrografi. Hållarna är kompatibla med tunnslip i storlekarna 28×48 mm, 27×46 mm, 26×46 mm och 25×45 mm.

Det finns två typer av geologiska tunnslipshållare:

Tunnslipshållare med S-klämmor:
- EM-Tec G0 – universell hållare för ett enda slide
- EM-Tec G2.0 – universell hållare för två slides
- EM-Tec G4.0 – universell hållare för fyra slides
Referensbaserade tunnslipshållare med referenskant:
- EM-Tec RG2 – dubbel petrografisk slidehållare för upp till 48×28 mm slides
- EM-Tec RG4 – fyrdubbel petrografisk slidehållare för upp till 48×28 mm slides

Alla EM-Tec petrografiska slidehållare finns med standard 3,2 mm pin, M4-gängat hål eller Ø14 mm JEOL-stub för SEM-adaptrar.

Teknisk supportbulletin: EM-Tec G0, G1, G2 & G4 geologiska tunnslip- och slidehållare med S-klämmor
Teknisk supportbulletin: EM-Tec RG2 + RG4 geologiska tunnslip toppreferenshållare

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec geologiska tunnslip- och slidehållare:

EM-Tec Gold Series provhållare

EM-Tec Gold Series SEM provhållare består av ett urval kompakta SEM-provhållare som alla är tillverkade av mässing och belagda med 1 µm rent guld. Mässing används för ökad styrka och är helt icke-magnetiskt. Guldpläteringen hjälper till att hålla provhållarna rena under hantering. Den höga kemiska resistensen hos guldpläteringen möjliggör användning av rengöringslösningar eller plasma-rengöring. Rena ytor på provhållarna minskar även kontaminationsöverföring till proverna. EM-Tec Gold Series är avsedda för table-top SEM, laboratorie-SEM och FESEM.

De tillgängliga EM-Tec Gold Series provhållarna och pin-stub adaptrarna är:

EM-Tec GR2 – Rör-/nålhållare för upp till Ø2 mm diameter. Nålen fixeras med en liten rostfri skruv på sidan. Lämplig för atomprobe-nålar. Tillverkad i mässing och 1 µm guldpläterad.
EM-Tec GS10 – Vridbar hållare med 180° rörelse och rotation med stubben. Optimal för bildtagning av tvärsnitt i valfri vinkel. Svivelhuvud ca 16×16×14 mm (utan skruvar). Provet fixeras med två skruvar och vinkeln låses med lutningsskruv. Mässing, guldpläterad.
EM-Tec GB16 – Rektangulär bulkprovhållare med två sidoklammor för provtjocklek upp till 16 mm. Fastspänning med rostfria skruvar. Mässing, guldpläterad.
EM-Tec GR20 – Rund hållare med tre klämmor för oregelbundna prover upp till Ø20 mm. Fästs med rostfria skruvar. Mässing, guldpläterad.
EM-Tec GS25 – Lätt “spider”-hållare för oregelbundna prover upp till Ø25 mm. Provet stöds av tre gängade ben och fixeras med flänsmuttrar. Mässing, guldpläterad.
EM-Tec GS45 – Lätt “spider”-hållare för prover upp till Ø45 mm. Samma konstruktion som GS25 men större format. Mässing, guldpläterad.
EM-Tec GZM4 – Kompakt Zeiss pin-stub adapter med M4-gänga. Konverterar M4-hål till Zeiss pin-stub. Pin Ø3,2 mm, längd 6 mm. Mässing, guldpläterad.
EM-Tec GSPM4 – Standard pin-stub adapter med M4-gänga. Konverterar M4-hål till standard pin-stub. Pin Ø3,2 mm, längd 9,5 mm. Mässing, guldpläterad.

Kapacitet och dimensioner för EM-Tec Gold Series SEM provhållare och pin-stub adaptrar:

Gripping stub & stubbaserade visestöd

EM-Tec gripping stub och stubbaserade visestöd är användbara för att hålla SEM-prover utan större behov av provberedning. De är idealiska för tvärsnitt och kantvisning (edge-on imaging). Det omfattande urvalet av denna typ av kostnadseffektiva grip- och visestöd är kompatibelt med SEM-system som använder pin stubs (FEI, Zeiss, Tescan, Phenom, Aspex), SEM med M4-gänga (Hitachi och EM-Tec SEM-stageadaptrar) samt JEOL SEM-system.

EM-Tec pin stub-kompatibla gripping stub och stubbaserade visestöd:

EM-Tec GS24 gripping stub-hållare med klämplatta för att hålla prover eller vävnad upp till 4 mm tjocklek. Provet hålls av klämplattan som trycks med ställskruvar. Även användbar för att hålla vävnad för dehydrering och CDP-bearbetning. Hållarens storlek är 24×13×12 mm; passar i alla SEM med standard 3,2 mm pin stubs. Ref: McTurk, G., Bulman, S., Ocklefors, C.C. Journal of microscopy 127,233. 1982.
EM-Tec PS4 mini pin stub-viseklämma för provtjocklekar från 0–4 mm. Provet hålls vertikalt med en liten ställskruv. Mest effektivt sätt att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens storlek utan pin är Ø12,7×7,2 mm.
EM-Tec PS44 fyrdubbel pin stub-viseklämma för 4 prover med tjocklek 0–4 mm. Proverna hålls vertikalt med 4 små ställskruvar. Mest effektivt för att studera tvärsnitt eller tunna prover. Hållarens storlek utan pin är Ø25,4 × 7,2 mm. Standard pin.
EM-Tec PV5 mini provviseklämma för provtjocklek från 0–5 mm Provet hålls vertikalt mellan visets käftar. Visets käftar dras åt med en mässings tumskruv. Hållarens storlek utan pin är Ø12,2×17 mm.
EM-Tec PS6 mini pin stub-delad viseklämma för provtjocklek från 0–6 mm. Provet kläms mellan två mini viseklämmor. De delade visekäftarna stängs med en insexskruv. Stängt diameter är 12,7 mm; när den är öppen 19×12,7 mm.
EM-Tec PS9 mini delad monteringsviseklämma för provtjocklek från 0–8 mm. Provet kläms mellan två visekäftar i den delade monteringen. De delade visekäftarna stängs med två insexskruvar. Stängd storlek är Ø15×10 mm; när den är öppen 23×15×10 mm.
EM-Tec PS7 mini pin stub dubbelspårs-visestöd med två spår på 1 mm bredd Idealisk för att hålla tunna wafer-bitar för tvärsnittsobservation. Proverna kläms med ställskruvar. Hållarens storlek utan pin är Ø15×6 mm.
EM-Tec PS12 pin stub-viseklämma för provtjocklek från 0–12 mm. Provet hålls vertikalt med en ställskruv. Mest effektivt sätt att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens storlek utan pin är Ø25×6 mm.

EM-Tec gripping stub och stubbaserade visestöd med M4-gänga:

EM-Tec GS24 gripping stub-hållare med klämplatta för att hålla prover eller vävnad upp till 4 mm tjocklek. Provet hålls av klämplattan som trycks med ställskruvar. Även användbar för att hålla vävnad för dehydrering och CDP-bearbetning. Hållarens storlek är 24×13×12 mm; M4-gängat hål i basen. Ref: McTurk, G., Bulman, S., Ocklefors, C.C. Journal of microscopy 127,233. 1982.
EM-Tec HV5 mini provviseklämma för provtjocklek från 0–5 mm. Provet hålls vertikalt mellan visets käftar. Visets käftar dras åt med en mässings tumskruv. Hållarens storlek är Ø12,2×17 mm.
EM-Tec HS6 mini M4 cylinder stub vise clamp for sample thickness from 0-6mm. Provet hålls vertikalt med en liten ställskruv. Ett enkelt och kostnadseffektivt sätt att klämma tvärsnitt av tunna prover. Hållarens stubstorlek är Ø15×10 mm × M4.
EM-Tec HS9 mini delad monteringsviseklämma för provtjocklek från 0–8 mm. Provet kläms mellan de två visekäftarna i den delade monteringen. De delade visekäftarna stängs med två insexskruvar. Stängd storlek är Ø15×10 mm; när den är öppen 23×15×10 mm.
EM-Tec HS15 M4 cylinder stub-viseklämma för provtjocklek från 0–16 mm. Provet hålls vertikalt med en ställskruv (flera längder ingår). Ett kostnadseffektivt och praktiskt visestöd baserat på stubstorleken Ø25×10 mm × M4.
EM-Tec HS7 mini pin stub dubbelspårs-visestöd med två spår på 1 mm bredd. Idealisk för att hålla tunna wafer-liknande prover för tvärsnittsobservation. Proverna kläms med ställskruvar. Hållarens storlek utan pin är Ø15×6 mm.

EM-Tec JEOL stubbaserade visestöd:

EM-Tec JS4 mini cylinder stub-viseklämma för provtjocklek från 0–4 mm. Provet hålls vertikalt med en liten ställskruv. Mest effektivt sätt att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens stubstorlek är Ø12,2×10 mm.
EM-Tec JV5 mini provviseklämma för provtjocklek från 0–5 mm. Provet hålls vertikalt mellan visets käftar. Visets käftar dras åt med en mässings tumskruv. Kompatibel med hållare för Ø12,2×10 mm JEOL-stub med en höjd på 17 mm ovanför stubben.
EM-Tec JS12 cylinder stub-viseklämma för provtjocklek från 0–12 mm Provet hålls vertikalt med en ställskruv (flera längder ingår). Ett kostnadseffektivt och praktiskt visestöd baserat på stubstorleken Ø25×10 mm.

Low Profile S-Clip-hållare

EM-Tec Low Profile S-Clip SEM-provhållare har utvecklats för att möjliggöra mycket kort arbetsavstånd och hög tilt för tunna prover. Low-Profile S-Clip-hållarna kan användas för att klämma tunna prover, såsom kiselskivor, upp till 1 mm tjocklek. EM-Tec Low Profile S-Clips placeras i smala precisionsspår som är frästa i provhållarna; clipsen kan flyttas i sidled för optimal positionering. EM-Tec Low Profile S-Clips är mindre än 0,3 mm tjocka vilket gör det möjligt att föra provet inom 1 mm från polstycket. EM-Tec Low Profile S-Clips är tillverkade av icke-magnetisk fosforbrons och kan enkelt modifieras för att anpassas till dina prover. De tillgängliga EM-Tec Low Profile S-Clip SEM-provhållarna är:

EM-Tec LPS12 med en kort Low Profile S-Clip på en Ø12,7 mm standard pin stub
EM-Tec LPS19 med två korta Low Profile S-Clips på en Ø19 mm pin stub
EM-Tec LPS25 med två standard Low Profile S-Clips på en Ø25,4 mm pin stub

EM-Tec Low Profile S-Clip SEM-provhållarna är kompatibla med SEM, FESEM, SEM/FIB, Dualbeam och Crossbeam-system från Tescan, Thermo, FEI, Philips och Zeiss. För JEOL- och Hitachi-system ska pin stub-adaptrar användas.

Metallografiska provhållare

EM-Tec metallografiska provhållare är utformade för att hålla metallografiska, petrografiska och keramografiska monteringar eller inbäddningar. Dessa praktiska och robusta hållare är lika användbara för att hålla runda prover med storlek som motsvarar monteringar eller för att hålla större cylindriska provstavar. Finns för alla standard metallografiska monteringar från 25 till 50 mm diameter (1” till 2”). Proverna fixeras med en M3 ställskruv; en insexnyckel ingår med hållaren. Ytterligare längre skruvar medföljer för att hålla mindre prover. De är alla tillverkade av vakuumklassad aluminium och har genomgått en slutlig rengöringsprocess som ger en sidenmatt ytfinish. Finns med:

standard pin tför att passa SEM som använder standard pin; FEI, Philips, Tescan, Phenom, Pemtron, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, ETEC och Novascan SEM
M4 threaded hole kompatibelt med Hitachi SEM, FESEM och bords-SEM samt med EM-Tec universella SEM-stageadaptrar
Ø14mm JEOL stub kompatibel med JEOL och EM-Tec stageadaptrar med Ø14 mm anslutning

Kapacitet och dimensioner för EM-Tec metallografiska provhållare:

Flerprovhållare

EM-Tec fler metallografiska provhållare är utformade för att hålla flera metallografiska, petrografiska och keramografiska monteringar eller inbäddningar i en enda hållare. De är lika användbara för att hålla flera runda prover med storlek som motsvarar monteringar eller för att hålla större cylindriska provstavar. EM-Tec fler metallografiska provhållare finns för standard metallografiska monteringar med metriska storlekar på 25, 30, 40 och 50 mm diameter samt SAE-storlekar på 1”, 1 1/4”, 1 1/2” och 2” diameter. Proverna säkras med en M4 ställskruv; en insexnyckel ingår med hållaren.

De är alla tillverkade av vakuumklassad aluminium och finns med:

standard pin för att passa SEM som använder standard pin; Thermo, FEI, Philips, Tescan, AmRay, Cambridge Instruments, Leica och CamScan SEM
M4-gängat hål kompatibelt med Hitachi SEM, FESEM och bords-SEM samt med EM-Tec universella SEM-stageadaptrar
Ø14 mm JEOL-stubb kompatibel med JEOL och EM-Tec stageadaptrar med Ø14 mm anslutning

För att göra dessa stora hållare kompatibla med mindre stages inkluderar varje hållare både centrala och extra excentriska stage-adaptermöjligheter.

Fler Hitachi stub-hållare

EM-Tec fler stub-hållare är ett ekonomiskt och praktiskt sätt att lasta flera Hitachi provstubs med prover i SEM. Användning av fler stub-hållare sparar tid, möjliggör flerprovsanalys eller gör det möjligt att snabbt jämföra prover med varandra. Följande typer erbjuds:

EM-Tec H3 fler stub-hållare för 3 x Ø15 mm Hitachi cylinderstubs
EM-Tec H3L fler stub-hållare för 3 x Ø25 mm Hitachi cylinderstubs
EM-Tec H6 fler stub-hållare för 6 x Ø15 mm Hitachi cylinderstubs
EM-Tec H3/45 45° fler stub-hållare för 3 x Ø15 mm Hitachi cylinderstubs
EM-Tec H3/45R 45° fler stub-hållare för 3 x Ø15 mm Hitachi cylinderstubs med justerbar rotation
EM-Tec H6/45 45° fler stub-hållare för 6 x Ø15 mm Hitachi cylinderstubs
EM-Tec H6/45R 45° fler stub-hållare för 6 x Ø15 mm Hitachi cylinderstubs med justerbar rotation

De horisontella fler stub-hållarna är baserade på Ø25 × 6 mm × M4 och Ø50 mm × 6 mm × M4 Hitachi-stubs för att hålla flera stubs på M4-skruvar. De 45° vinklade flerhållarna möjliggör 45° pre-tilt vilket är fördelaktigt för bords-SEM utan stage tilt eller för snabb avbildning vid 45° utan att behöva tilta SEM-stage. 45°-tiltat bildtagande ger ofta en högre SE-signal och visar mer av provytans topografi. EM-Tec 45° fler stub-hållare erbjuds i två versioner:

Fast M4-gängade skruvar för att hålla Hitachi-stubs
Justerbara rotations-M4-gängade skruvar som möjliggör individuell rotation av Hitachi-stubs för att optimera betraktningsvinkel för provområdet

Capacity, size and compatibility of the EM-Tec multiple stub holders for Hitachi stubs:

Flerhållare för JEOL-stubbar

EM-Tec flerhållare för stubbar erbjuder ett effektivt och kostnadseffektivt sätt att ladda flera provstubbar med prover i SEM. Genom att använda flerhållare sparas tid, flerprovsbearbetning möjliggörs och prover kan snabbt jämföras med varandra. Tre typer erbjuds:

EM-Tec J4 flerhållare för 4 st Ø9,5 mm JEOL SEM-stubbar
EM-Tec J3 flerhållare för 3 st Ø12,2 mm JEOL SEM-stubbar
EM-Tec J7 flerhållare för 7 st Ø12,2 mm JEOL SEM-stubbar

EM-Tec J4 och J3 är baserade på en Ø32 × 10 mm JEOL-provstubb och rymmer antingen 4 st Ø9,5 mm eller 3 st Ø12,2 mm JEOL-cylinderstubbar. EM-Tec J7 är en större skiva med måtten Ø50 × 15 mm. Finns i följande utföranden:

JEOL Ø32 × 10 mm cylinderstubb-kompatibelt utförande för JEOL SEM
Standardpinne för SEM som använder pinstubbar
M4-gängat hål för Hitachi SEM eller de mångsidiga EM-Tec SEM-bordsadaptrarna

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec flerhållare för JEOL SEM-stubbar:

Multipla hållare för pinstift

EM-Tec multipelhållare för pinstift är ett effektivt och kostnadseffektivt sätt att ladda flera pinstift med prover i SEM. De sparar tid, möjliggör bearbetning av flera prover samtidigt och gör det enkelt att snabbt jämföra olika prover med varandra. De är avsedda för standardpinstift på 12,7 mm (1/2”), men de större pinstiften på 25,4 mm (1”) kan också användas i hållare för 6 eller fler pinstift. Alla positioner på EM-Tec multipelhållare för 6 eller fler pinstift är numrerade för enkel identifiering. Pinstiften hålls säkert på plats med små M3-insexskruvar i rostfritt stål på hållare för upp till 12 pinstift; en insexnyckel medföljer. På multipelhållarna för 29 respektive 49 pinstift hålls pinstiften på plats med en integrerad fjäder i rostfritt stål. Hållarna för 6 och 8 pinstift har ingraverade korslinjer som underlättar orientering och navigering. Samtliga är tillverkade av vakuumklassad aluminium och har genomgått en slutlig rengöringsprocess som ger en sidenmatt yta. Finns med:

Standardstift för SEM som använder standardstift; FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, Aspex, ETEC och Novascan SEM.
M4-gängat hål, kompatibelt med Hitachi SEM, FESEM och bords-SEM samt med EM-Tec:s mångsidiga SEM-stegadaptrar.
32 mm JEOL SEM-stubbformat, kompatibelt med 32 mm stubbhållare för JEOL SEM.

Dessutom finns två multipelhållare med 45° förtilt:

3 × 45° hållare för pinstift
6 × 45° hållare för pinstift

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec multipelhållare för pinstift:

Multi XL hållare, stor

Den innovativa EM-Tec XL100 multi-hållaren har utvecklats för att hålla 4 stora SEM-provstift eller 4 SEM-provhållare med en diameter upp till 53 mm. Denna hållare är avsedd för användning på stora SEM-provsteg med ett X-Y-rörelseområde på 100x100 mm eller mer. Denna praktiska och prisvärda hållare ökar avsevärt produktiviteten vid avbildning och analys av flera prover. EM-Tec XL100 multi-hållaren kan även användas på mindre steg i kombination med EM-Tec XT excentriska stegförlängningslister.
Hållarens unika X-form minskar vikten och möjliggör enkel laddning och fastsättning av stift eller hållare på EM-Tec XL100 multi-hållaren. I mitten av EM-Tec XL100 finns ett ingraverat X och siffror som möjliggör enkel identifiering av varje ”arm”. Levereras med extra stiftförlängare för att öka höjden och föra hållarna närmare polstycket om plana prover behöver avbildas eller analyseras.

Kompatibla SEM-provstift för EM-Tec XL100 multi-hållare är:

Standard pin-provstift med 25,4, 32, 38 och 50 mm diameter
Korta Zeiss pin-provstift med 25,4, 32, 38 och 50 mm diameter
Hitachi M4-gängade cylinderformade provstift med 25, 32 och 50 mm diameter

Kompatibla EM-Tec SEM-provhållare är:

EM-Tec bulkprovhållare R32 och B26
EM-Tec metallografiska hållare M26, M32 och M40
EM-Tec multi pin-stifthållare P4, P6 och P8
EM-Tec filterhållare F35 och F47

EM-Tec XL100 ökar produktiviteten genom att hålla flera stora prover, vilket minskar tiden för evakuering och pumpning. Dessutom kan flera prover analyseras under en och samma session utan operatörsinteraktion (t.ex. vid körning över natten).

Specifikationer för EM-XL100 multi-hållare:

SampleClamp-hållare

EM-Tec SampleClamp-hållarna är särskilt utvecklade för att hålla tunna trådar, rör, nålar, sonder och materialremsor för att möjliggöra enkel avbildning av ytorna. Proverna kläms fast med skruvar och två remsor på en plan hållaryta. Remsorna håller proverna plana. Den maximala provtjockleken är 3 mm med standardskruvarna. Extra långa skruvar medföljer för att öka den maximala provtjockleken till 7 mm. Ingen kolpasta eller ledande adhesiv behövs. De är även användbara för porösa eller känsliga material där adhesiver lätt kan tränga in i materialet och orsaka artefakter. EM-Tec SampleClamp-provhållarna är alla precisionsbearbetade från vakuumklassad aluminium med icke-magnetiska mässingsskruvar för att hålla fast remsan eller proverna. Det finns fyra typer av EM-Tec SampleClamp SEM-hållare:

EM-Tec SC1 SampleClamp med en klämyta på 15x10 mm. För små och tunna trådar, remsor, fibrer, kablar, rör etc. Finns med pinnstubbe eller M4-gängat hål
EM-Tec SC2 SampleClamp med en klämyta på 25x15 mm. För större och tjockare trådar, remsor, kablar, rör, stavar etc. Finns med pinnstubbe eller M4-gängat hål

EM-Tec SC2R SampleClamp med ett försänkt område på 25x15 mm. Det försänkta området gör att provytan som ska undersökas är helt fristående. Detta möjliggör full rotation av provet för att undersöka alla sidor. Det försänkta området tenderar att vara ur fokus, vilket ger större fokus på provet. Tips: för att undvika signal från det försänkta området kan man placera en kolskiva under provet; detta reducerar kraftigt både elektron- och röntgensignalen.

EM-Tec mini SampleClamp inkluderar en enda skruv med en bricka för att klämma fast provet. EM-Tec mini SampleClamp-hållarna är baserade på SEM-stubbar och finns i format för pinnstubbe, Hitachi M4-stubbe och JEOL-cylinderstubbe. EM-Tec mini SampleClamp kan även användas tillsammans med tunna engångsbitar av aluminiumplåt, fyrkanter eller skivor.

När EM-Tec SEM-stubbadaptrar används kan EM-Tec SampleClamp-hållarna anpassas till praktiskt taget alla SEM-system.

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec SampleClamp SEM-hållarna:

S-Clip provhållare

EM-Tec S-Clip-prov hållarna består alla av en eller flera fjäderbelastade provklämmor (S-Clips), antingen monterade på en SEM-provstubbe eller en SEM-provhållare. De fjäderbelastade S-Clipsen är särskilt utformade för att hålla tunna prover upp till 2 mm på en hållare. Valfria distanspelare finns tillgängliga för att möjliggöra hantering av tjockare prover. Små brickor kan också användas för att öka klämhöjden.

S-Clipsen är monterade med en liten M2-skruv som gör att S-Clipsen kan rotera. S-Clipsen är tillverkade av ledande fjäderhård kopparlegering; proverna kläms fast säkert utan behov av ledande adhesiver eller ledande pastor. Provbyten är snabba, enkla och rena; problem med kontaminering från adhesiver eller lim elimineras. De är idealiska för att hålla Si-chip och andra tunna prover.

EM-Tec S-Clip SEM-provhållare finns tillgängliga för följande SEM-plattformar:

Standard pinnstubbar för FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspec, Cambridge, CamScan, Leica etc.
Zeiss pinnstubbar (kortare pinne) för Zeiss- och LEO-SEM
JEOL plana cylinderprovstubbar
Hitachi M4 cylinderprovstubbar

EM-Tec S-Clip SEM-provhållare finns tillgängliga för att hålla prover horisontellt (plant), i 45° eller i 90°. 45° och 90° är användbara för att hålla tvärsnitt av tunna prover och waferbitar. EM-Tec S-Clip-provhållare är ett kostnadseffektivt alternativ till 1”-3” waferhållare. De kan hålla de mindre 1” (25,4 mm), 2” (51 mm) och 3” (76 mm) wafers om det är möjligt att hålla fast wafern med S-Clipsen:

EM-Tec S-Clip-hållare med 38 mm stubbdiameter är lämplig för: 1” (25,4 mm) wafers
EM-Tec S-Clip-hållare med 63 mm stubbdiameter är lämplig för: 2” (51 mm) wafers
EM-Tec S-Clip-hållare med 100 mm stubbdiameter är lämplig för: 3” (76 mm) wafers

EM-Tec S-Clips finns även separat för att möjliggöra för kunder att tillverka egna specialanpassade provklämhållare. Måtten är 12,8 mm långa, spetsen är 1,6 mm bred, höjden är 1,5 mm och de har ett Ø2,2 mm hål för montering med en M2-skruv. Tillverkade av 0,25 mm tunn fjäderhård kopparlegering. M2x3 monteringsskruvar medföljer EM-Tec S-Clips.

Små provhållare

EM-Tec:s SEM-provhållare baserade på stubbar är alla små SEM-provhållare baserade på (modifierade) SEM-provstubbar. De har samma fotavtryck som de ursprungliga SEM-provstubbarna och är direkt kompatibla med SEM-steget eller SEM-provstubbshållaren. Dessa prisvärda provhållare ökar effektiviteten och minskar tiden för provberedning. Användning av provhållare minskar behovet av ledande adhesiver som kan vara en källa till kontaminering. EM-Tec:s små provhållare baserade på stubbar finns i följande format:

De pinnstubb-baserade provhållarna omfattar det största urvalet; de kan enkelt användas på andra SEM-plattformar genom att använda de kostnadseffektiva EM-Tec SEM-stubbadaptrarna. Alla EM-Tec:s kompakta SEM-provhållare baserade på stubbar är precisionsbearbetade från vakuumklassat aluminium om inget annat anges. Levereras med ställskruvar och insexnycklar.

EM-Tec kompakta provhållare baserade på pinnstubbar:

Det finns ett stort urval av kompakta EM-Tec provhållare baserade på pinnstubbar. Eftersom de är små och använder standardformatet för pinnstubbar passar de i praktiskt taget alla SEM som är kompatibla med standardpinnstubbar. De är baserade på standardpinnstubbar eller tillverkade av modifierade pinnstubbar med en pinnstorlek på Ø3,15 mm och en pinnlängd på 9,5 mm. De är idealiska för bords-SEM såsom Phenom men är lika användbara i laboratorie-SEM och FESEM. Användning av provhållare är snabbare, renare och ger bättre stabilitet än ledande tejp eller lim.
EM-Tec:s serie av kompakta pinnstubbshållare omfattar:

EM-Tec PS2 mini pinnstubbshållare för rör/nålar. Kapacitet upp till Ø2 mm diameter, nålen säkras med en liten ställskruv. Denna hållare är idealisk för sonder, nålar, trådar och tunna rör. Perfekt hållare för nålformade prover till Cameca Atom Probe Microscope. Hållarens storlek är Ø6x4 mm. Tillverkad av mässing och pläterad med 1 µm rent guld.
EM-Tec PS3 mini pinnstubb SampleClamp för att klämma fast tunna prover, folier, Si-waferbitar etc. direkt på den lilla stubben. Proverna hålls på plats med en bricka under den lilla skruven. Mer effektiv och renare än användning av tejp eller ledande färg/pasta. Pinnstubbens diameter är 12,7 mm.
EM-Tec PS4 mini pinnstubbskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–4 mm. Provet hålls vertikalt med en liten ställskruv. Det mest effektiva sättet att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens storlek utan pinne är Ø12,7×7,2 mm.
EM-Tec PS44 fyrdubbel pinnstubbskruvstycke för 4 prover med 0–4 mm tjocklek. Proverna hålls vertikalt med 4 små ställskruvar. Det mest effektiva sättet att studera tvärsnitt eller tunna prover. Hållarens storlek utan pinne är Ø25,4 x 7,2 mm. Standardpinne.
EM-Tec PS6 mini pinnstubb delat skruvstycke för prover med en tjocklek från 0–6 mm. Provet kläms fast mellan de två små skruvstyckena. De delade skruvstyckesbackarna stängs med en insexskruv. Det stängda delade skruvstyckets diameter är 12,7 mm; när det är öppet är det 19×12,7 mm.
EM-Tec PS9 mini delat monteringsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–8 mm. Provet kläms fast mellan de två backarna på det delade fästet. De delade skruvstyckesbackarna stängs med två insexskruvar. Måtten för det stängda mini delade monteringsskruvstycket är Ø15x10 mm; när det är öppet 23x15x10 mm.
EM-Tec PS7 mini pinnstubb med dubbla spår, med två spår på 1 mm bredd. Idealisk för att hålla tunna waferbitar för tvärsnittsavbildning. Proverna kläms fast med ställskruvar. Hållarens storlek utan pinne är Ø15x6 mm.
EM-Tec PS12 pinnstubbskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–12 mm.. Provet hålls vertikalt med en ställskruv. Det mest effektiva sättet att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens storlek utan pinne är Ø25x6 mm.
EM-Tec PS5 mini pinnstubb för att klämma fast rundformade prover upp till Ø3,5 mm diameter. Proverna hålls fast med en ställskruv. Pinnstubbens toppdiameter är 12,7 mm.
EM-Tec PS8 mini pinnstubb för att klämma fast rundformade prover upp till Ø6,0 mm diameter. Proverna hålls fast med en ställskruv. Pinnstubbens toppdiameter är 12,7 mm.
EM-Tec PS16 pinnstubb för att klämma fast rundformade prover upp till Ø16,0 mm diameter Proverna hålls fast med en ställskruv. Pinnstubbens toppdiameter är 25 mm.
EM-Tec PS11 mini pinnstubbshållare för ett enda TEM- eller FIB-galler. TEM-gallrets kant vilar på en avsats; i mitten av håligheten finns en fördjupning så att prover på gallret står fritt och inte vidrörs av hållaren. Ett spår finns för enkel ilastning och urlastning av TEM-gallret med fina pincetter. TEM-gallret kläms inte fast. Denna hållare används för snabb kontroll av ett TEM-galler i SEM eller som gallerhållare för en kolindunstare. Pinnstubbens toppdiameter är 12,7 mm.
EM-Tec PS14 mini pinnstubbshållare för fyra TEM- eller FIB-galler. TEM-gallrets kant vilar på en avsats; i mitten av varje hålighet finns en fördjupning som skapar ett område där gallrets nät inte vidrörs. Spår finns för enkel ilastning och urlastning av TEM-gallren med fina pincetter. TEM-gallren kläms inte fast. Denna hållare används för snabb kontroll av TEM-galler i SEM eller som gallerhållare för en kolindunstare. Pinnstubbens toppdiameter är 12,7 mm.
EM-Tec PS15 svängbar pinnstubbshållare. Huvudet på hållaren är fäst vid pinnen via ett svängbart gångjärn som möjliggör 90 graders lutning åt båda håll. En utmärkt hållare för SEM utan lutningsfunktion eller när slumpmässiga lutningsvinklar behövs. När önskad lutningsvinkel har ställts in låses toppen med en hylsskruv. Toppdiametern är 15 mm och höjden ovanför pinnen är 15 mm.
EM-Tec PE10 pinnstubbförlängare med en extra höjd på 10 mm. Används när extra höjd behövs för att föra provet närmare SEM:s polstycke utan att använda Z-axeln på SEM-steget. Storlek utan pinne är Ø12,7×13,2 mm.
EM-Tec F12 är en enkel men praktisk FIB-gallerhållare för 2 FIB-galler. Baserad på standard Ø12,7 mm pinnstubb är den kompakt och användbar för förvaring av värdefulla prover. Det 10 mm breda skruvstycket har en avsats för enkel positionering av FIB-gallren.
EM-Tec P36 fast 36° lutningshållare för Zeiss pinnstubbar. Används för att förluta prover 36° för Zeiss CrossBeam FIB-system. Storlek utan pinne är Ø12,7x17 mm.
EM-Tec P38 fast 38° lutningshållare för FEI pinnstubbar. Används för att förluta prover 38° för FEI Dual Beam FIB-system. Storlek utan pinne är Ø12,7x17 mm.
EM-Tec P45 fast 45° lutningshållare för standard- och Zeiss pinnstubbar. Avbilda provytor eller tvärsnitt direkt under 45° utan att behöva använda lutningsfunktionen på SEM-steget. Särskilt användbar för bords-SEM utan lutningsmöjlighet eller för att utöka lutningsvinkeln på steg med begränsad lutning. Storlek utan pinne är Ø12,7x17 mm.
EM-Tec P45M fast 45° lutningshållare för Hitachi M4 cylinderstubbar. Avbilda provytor eller tvärsnitt direkt under 45° utan att behöva luta SEM-steget. Särskilt användbar för bords-SEM utan lutningsmöjlighet eller för att utöka lutningsvinkeln på steg med begränsad lutning. Storlek utan pinne är Ø12,7x17 mm.
EM-Tec P70 fast 70° EBSD-lutningshållare för pinnstubbar och pinnstubb-baserade provhållare. Lutar provytan direkt till korrekt vinkel (70°) för EBSD-analyser. Lämplig för ytor och tvärsnitt. Storlek utan pinne är Ø12,7x20 mm.
EM-Tec P70M fast 70° EBSD-lutningshållare för Hitachi M4-stubbar och provhållare med M4-gängat hål Lutar provytan direkt till korrekt vinkel (70°) för EBSD-analyser. Storlek utan pinne är Ø12,7x20 mm.

Små skruvstyckeshållare

EM-Tec:s gripstubbar och stubbaserade skruvstyckeshållare är användbara för att greppa och hålla SEM-prover utan större behov av provberedning. Idealiska för tvärsnitts- och kantavbildning. Det omfattande urvalet av denna typ av kostnadseffektiva grip- och skruvstyckeshållare är kompatibelt med SEM som använder pinnstubbar (FEI, Zeiss, Tescan, Phenom, Aspex), SEM med M4-gänga (Hitachi och EM-Tec SEM-stegeadaptrar) samt JEOL SEM.

EM-Tec gripstubbar och stubbaserade skruvstyckeshållare kompatibla med pinnstubbar:

EM-Tec GS24 gripstubshållare med klämplatta för att hålla prover eller vävnad upp till 4 mm tjocklek. Provet hålls fast av klämplattan som pressas ned med ställskruvar. Även användbar för att hålla vävnad vid dehydrering och CDP-bearbetning. Hållarens storlek är 24x13x12 mm; passar i alla SEM som använder standard 3,2 mm pinnstubbar. Referens: McTurk, G., Bulman, S., Ocklefors, C.C. Journal of Microscopy 127,233. 1982.
EM-Tec PS4 mini pinnstubbsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–4 mm. Provet hålls vertikalt med en liten ställskruv. Det mest effektiva sättet att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens storlek utan pinne är Ø12,7×7,2 mm.
EM-Tec PS44 fyrdubbelt pinnstubbsskruvstycke för 4 prover med 0–4 mm tjocklek. Proverna hålls vertikalt med 4 små ställskruvar. Det mest effektiva sättet att studera tvärsnitt eller tunna prover. Hållarens storlek utan pinne är Ø25,4 x 7,2 mm. Standardpinne.
EM-Tec PV5 mini provskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–5 mm. Provet hålls vertikalt mellan skruvstyckets backar. Backarna spänns med en mässingsvingmutter. Hållarens storlek utan pinne är Ø12,2x17 mm.
EM-Tec PS6 mini pinnstubb delat skruvstycke för prover med en tjocklek från 0–6 mm. Provet kläms fast mellan de två små skruvstyckena. De delade skruvstyckesbackarna stängs med en insexskruv. Det stängda delade skruvstyckets diameter är 12,7 mm; när det är öppet är det 19×12,7 mm.
EM-Tec PS9 mini delat monteringsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–8 mm. Provet kläms fast mellan de två skruvstyckesbackarna på det delade fästet. De delade skruvstyckesbackarna stängs med två insexskruvar. Måtten för det stängda delade monteringsskruvstycket är Ø15x10 mm; när det är öppet 23x15x10 mm.
EM-Tec PS7 mini pinnstubb med dubbla spår och två spår med 1 mm bredd. Idealisk för att hålla tunna waferbitar för tvärsnittsavbildning. Proverna kläms fast med ställskruvar. Hållarens storlek utan pinne är Ø15x6 mm.
EM-Tec PS12 pinnstubbsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–12 mm. Provet hålls vertikalt med en ställskruv. Det mest effektiva sättet att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens storlek utan pinne är Ø25x6 mm.

EM-Tec gripstubbar och stubbaserade skruvstyckeshållare med M4-gänga:

EM-Tec GS24 gripstubshållare med klämplatta för att hålla prover eller vävnad upp till 4 mm tjocklek. Provet hålls fast av klämplattan som pressas ned med ställskruvar. Även användbar för att hålla vävnad vid dehydrering och CDP-bearbetning. Hållarens storlek är 24x13x12 mm; M4-gängat hål i basen. Referens: McTurk, G., Bulman, S., Ocklefors, C.C. Journal of Microscopy 127,233. 1982.
EM-Tec HV5 mini provskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–5 mm. Provet hålls vertikalt mellan skruvstyckets backar. Backarna spänns med en mässingsvingmutter. Hållarens storlek är Ø12,2x17 mm.
EM-Tec HS6 mini M4 cylinderstubbsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–6 mm. Provet hålls vertikalt med en liten ställskruv. Ett enkelt och kostnadseffektivt sätt att klämma fast tvärsnitt av tunna prover. Hållarens stubb-storlek är Ø15x10 mm xM4.
EM-Tec HS9 mini delat monteringsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–8 mm. Provet kläms fast mellan de två skruvstyckesbackarna på det delade fästet. Det delade monteringsskruvstyckets backar stängs med två insexskruvar. Måtten för det stängda delade monteringsskruvstycket är Ø15x10 mm; när det är öppet 23x15x10 mm.
EM-Tec HS15 M4 cylinderstubbsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–16 mm. Provet hålls vertikalt med en ställskruv (flera längder medföljer). Ett kostnadseffektivt och praktiskt litet skruvstycke baserat på stubb-storleken Ø25x10 mm xM4.
EM-Tec HS7 mini pinnstubb med dubbla spår och två spår med 1 mm bredd. Idealisk för att hålla tunna waferliknande prover för tvärsnittsavbildning. Proverna kläms fast med ställskruvar. Hållarens storlek utan pinne är Ø15x6 mm.

EM-Tec skruvstyckeshållare baserade på JEOL-stubbar:

EM-Tec JS4 mini cylinderstubbsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–4 mm. Provet hålls vertikalt med en liten ställskruv. Det mest effektiva sättet att studera tvärsnitt av tunna prover. Hållarens stubb-storlek är Ø12,2x10 mm.
EM-Tec JV5 mini provskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–5 mm. Provet hålls vertikalt mellan skruvstyckets backar. Backarna spänns med en mässingsvingmutter. Kompatibelt med hållare för Ø12,2x10 mm JEOL-stubbar med en höjd på 17 mm ovanför stubben.
EM-Tec JS12 cylinderstubbsskruvstycke för prover med en tjocklek från 0–12 mm. Provet hålls vertikalt med en ställskruv (flera längder medföljer). Ett kostnadseffektivt och praktiskt litet skruvstycke baserat på stubb-storleken Ø25x10 mm.

Fjäderbelastade skruvstyckeshållare

EM-Tec:s SEM-provhållare av skruvstyckestyp med fjäderbelastning är snabba och enkla att använda. De håller provet genom att klämma fast det mellan de rörliga backarna, vilket möjliggör snabb provmontering och minskar stilleståndstiden. De är särskilt användbara när liknande prover eller serier av samma prov ska undersökas. Användning av en fjäderbelastad SEM-provhållare är enklare, snabbare och renare än användning av ledande adhesiver eller lim. Ett skruvstycke klämmer fast provet och ger den styvhet som krävs för högupplöst avbildning. De fjäderbelastade EM-Tec SEM-provhållare som för närvarande finns tillgängliga är:

EM-Tec VS8 mini fjäderbelastat skruvstycke för prover upp till 8 mm
EM-Tec VS12 kompakt enkelverkande fjäderbelastat skruvstycke för prover upp till 12 mm
EM-Tec VS12-T kompakt fjäderbelastat skruvstycke för upp till 12 mm med 0–90 graders lutningsmöjlighet
EM-Tec VS26 medelstort dubbelverkande fjäderbelastat skruvstycke för prover upp till 26 mm
EM-Tec VS42 stort universellt dubbelverkande fjäderbelastat skruvstycke för prover upp till 42 mm

EM-Tec:s skruvstyckesbaserade provhållare finns tillgängliga med pinne och med ett M4-gängat hål. För användning på JEOL SEM rekommenderar vi att använda en EM-Tec SEM-stubadapter eller en EM-Tec stegeadapter.

Tekniskt supportdokument:: EM-Tec VS8 mini fjäderbelastat SEM-provskruvstycke
Tekniskt supportdokument:: EM-Tec VS12 kompakt enkelverkande fjäderbelastat skruvstycke
Tekniskt supportdokument:: EM-Tec VS26 kompakt dubbelverkande fjäderbelastat SEM-provskruvstycke
Tekniskt supportdokument:: EM-Tec VS42 universellt fjäderbelastat skruvstycke

Specifikationer för EM-Tec:s fjäderbelastade skruvstyckeshållare:

Sats med mjuka backbeläggningar

EM-Tec:s ledande sats med mjuka backbeläggningar för SEM-provhållare av skruvstyckestyp består av ett ledande ark av neopren med ett ledande adhesivskikt på ena sidan. Den är avsedd för att hålla känsligare prover och förhindra märken eller skador på känsliga ytor. Det ledande mjuka gummimaterialet ger både ett mjukt grepp och en jordningsväg.

EM-Tec:s ledande sats med mjuka backbeläggningar är kompatibel med följande SEM-provhållare:

EM-Tec V22 kompakt skruvstyckeshållare, #12-000200 och #12-000300
EM-Tec V12 liten fjäderbelastad skruvstyckeshållare, #12-000221 och #12-000321
EM-Tec V26 dubbelverkande fjäderbelastad skruvstyckeshållare, #12-000222 och#12-000322
EM-Tec VS42 universell fjäderbelastad skruvstyckeshållare,#12-000220 och #12-000320
EM-Tec CV1 stor centrerande skruvstyckeshållare, #12-000202 och #12-000302

Tekniskt supportdokument: Fastspänning av känsliga prover i SEM-hållare av skruvstyckestyp

Specifikationer för det ledande neoprenarket med ledande adhesiv:

STEM-avbildningshållare

TEM-prover är mycket tunna och uppvisar därför ingen signal som härrör från bulkmaterialet. Detta möjliggör förbättrad ytbilder och ökad spatial upplösning. Dessa är tydliga fördelar vid SEM/EDX-studier av tunna filmer, fina dispersioner, inneslutningar, utfällningar och material med låg Z. Ett SEM, eller snarare ett FESEM, kan även användas för att kontrollera TEM-prover eller lameller framställda med en FIB innan de sätts in i ett TEM.
Det finns två metoder för avbildning av TEM-prover och de kräver olika typer av TEM-gallerhållare:

ytbilder och undersökning kräver TEM-gallerhållare
STEM-avbildning kräver en speciell TEM-gallerhållare med integrerad konverteringsplatta

EM-Tec TEM-gallerhållare möjliggör undersökning av TEM-prover i SEM. De är avsedda för användning i bords-SEM, laboratorie-SEM, FESEM, Auger, SIMS och ljusmikroskop. EM-Tec gallerhållare kan även användas för att snabbt kontrollera provet (efter FIB-processer) innan undersökning med ett TEM. EM-Tec gallerhållarna är avsedda för användning i SEM, Auger, SIMS och ljusmikroskop. De är alla precisionsbearbetade från vakuumklassad aluminium.

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec ST1 STEM-avbildningshållare:

Svängbara lutningshållare

Utbudet av EM-Tec svängbara provhållare

EM-Tec PS17 mini svängbart skruvstyckesfäste för att hålla prover eller tvärsnitt upp till 4 mm tjocka. Provet hålls med en ställskruv. Mått ovanför pinnen är Ø12x18mm. Finns även som EM-Tec HS17 för Hitachi SEM och JS17 för JEOL SEM.
EM-Tec PS18 mini svängbart delat skruvstyckesfäste för att hålla prover från 0–8 mm mellan de små skruvstyckeskäftarna. I stängt läge är måtten Ø15x24mm ovanför pinnen; i öppet läge är måtten 23x15x24mm ovanför pinnen. Finns även som HS18 för Hitachi SEM och JS18 för JEOL SEM.
EM-Tec GS10 svängbart skruvstycke för större prover och tvärsnitt från 0–10 mm; möjliggör även montering av två tvärsnitt samtidigt. Detta är den optimala hållaren för avbildning av tvärsnitt i valfri vinkel. Det svängbara huvudet, utan klämskruvar, är endast 16x16x14mm stort. Provet spänns fast med de två klämskruvarna; det svängbara huvudet kan låsas på plats med lutningsklämskruven. Tillverkad av förgylld mässing. Finns även som HG10 för Hitachi SEM och JG10 för JEOL SEM.
EM-Tec PS19 bred svängbar klämhållare för att hålla prover upp till 16 mm. Provet hålls med en ställskruv. Mått ovanför pinnen är Ø25x24mm. Finns även som PS19 för Hitachi SEM och JS19 för JEOL SEM.
EM-Tec PS15 svängbart pin stub-fäste. Utmärkt hållare för SEM utan lutningsfunktion eller när slumpmässiga lutningsvinklar behövs. Toppdiameter är 15mm och höjden ovanför pinnen är 15mm. Finns även som HS15 för Hitachi SEM och JS15 för JEOL SEM.
EM-Tec PS15C S-Clip svängbart pin stub-fäste med ett S-Clip för att spänna fast tunna prover upp till 2 mm tjocklek. Möjliggör full lutning på 90 grader åt båda håll. Mått ovanför pinnen är Ø15x17mm. Finns även som HS15C för Hitachi SEM och JS15C för JEOL SEM.
EM-Tec PSM4 svängbart monteringsadapter med M4. Denna svängbara adapter konverterar små provhållare till svängbara hållare eller monterar Hitachi-stift för att omvandla dem till svängbara stift. EM-Tec PSM4 svängbara monteringsadapter är avsedd för mindre hållare och stift eftersom större hållare begränsar lutningsområdet. Mått ovanför pinnen är Ø9×14. Finns även som HSM4 för Hitachi SEM och som LSM4 för JEOL SEM.

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec svängbara hållare, fästen och adaptrar:

t-EBSD-provhållare

EM-Tec t-EBSD-hållarna är särskilt utvecklade för att generera transmissions-Kikuchi-mönster. De transmissions-EBSD-hållarna har en öppning på Ø2mm i basen. Ovansidan består av en gaffelformad klämma av fosforbrons som håller fast TEM- eller FIB-gallret. Transmission-EBSD-avbildning och analys är möjlig över området med Ø2mm.
EM-Tec t-EBSD-hållarna finns tillgängliga med kapacitet för 1 eller 3 TEM-galler. Valbara konfigurationer inkluderar:

EM-Tec T1 t-EBSD-provhållare för ett enda TEM- eller FIB-galler, standard Ø3,2mm (1/8”) pinne för montering på befintliga förlutningshållare
EM-Tec T3 t-EBSD-provhållare för tre TEM- eller FIB-galler, standard Ø3,2mm (1/8”) pinne för montering på befintliga förlutningshållare
EM-Tec TE1 t-EBSD-provhållarsats för ett enda TEM- eller FIB-galler med 70° och 20° förlutning, pinne / M4
EM-Tec TE3 t-EBSD-provhållarsats för tre TEM- eller FIB-galler med 70° och 20° förlutning, pinne / M4

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec t-EBSD-provhållare och satser:

TEM-gallerhållare

EM-Tec TEM-gallerhållarna möjliggör undersökning av TEM-prover i SEM. De är avsedda för användning i bords-SEM, laboratorie-SEM, FESEM, Auger, SIMS och ljusmikroskop. EM-Tec gallerhållare kan även användas för att snabbt kontrollera provet (efter FIB-processer) innan det undersöks i ett TEM. EM-Tec gallerhållarna är avsedda för användning i SEM, Auger, SIMS och ljusmikroskop. De är alla precisionsbearbetade från aluminium av vakuumkvalitet. Det finns tre EM-Tec TEM-gallerhållare:

EM-Tec TG4 TEM-gallerhållare baserad på pin stub för upp till fyra TEM-galler. Numrerade positioner med bearbetade fickor och sidospår för enkel laddning/urladdning av TEM-gallren. TEM-gallren spänns fast av topplattan och en central mässingsskruv. Genomgående hålstorlek är Ø2,1mm med en 60° sidovinkel på ovansidan och basen för att minska störningar från elektronspridning och röntgenspridning från hållaren. Total storlek är Ø18×3,2mm med en 15mm lång standard 3,2mm pinne. Den längre pinnen skapar ett avstånd från stegadaptern för att minska elektron- och röntgensignaler från SEM-steget.
EM-Tec PS11 mini pin stub-hållare för ett enda TEM- eller FIB-galler. TEM-gallrets kant vilar på en avsats; i mitten av håligheten finns en fördjupning som skapar ett kontaktfritt område för gallrets nät. Ett spår finns för enkel laddning/urladdning av TEM-gallret med fina pincetter. TEM-gallret är inte fastspänt. Denna hållare används för snabb kontroll av ett TEM-galler i SEM eller som TEM-gallerhållare för en kolindunstare.
EM-Tec PS14 mini pin stub-hållare för fyra TEM- eller FIB-galler. TEM-gallrets kant vilar på en avsats; i mitten av varje hålighet finns en fördjupning som skapar ett kontaktfritt område för gallrets nät. Spår finns för enkel laddning/urladdning av TEM-gallren med fina pincetter. TEM-gallren är inte fastspända. Denna hållare används för snabb kontroll av upp till fyra TEM-galler i SEM eller som gallerhållare för en kolindunstare.

Kapacitet, storlek och kompatibilitet för EM-Tec ST1 STEM-avbildningshållare:

Toppreferenshållare

EM-Tec toppreferenshållarna säkerställer samma fokuseringsförhållanden för SEM och samma utgångsvinkel för röntgenanalyssystemet för alla hållare i hållaren. De är utvecklade för SEM/EDS/WDS-analys av flera metallografiska och petrografiska hållare. Hållarna placeras mot tre referenskanter och säkras med skruvar från sidan. Referenskanterna är endast 1mm tjocka och avfasade för att minska störningar vid röntgenanalys. De är avsedda för större analytiska SEM med stora SEM-bord. Tillverkade av aluminium av vakuumkvalitet med skruvar i rostfritt stål. En av positionerna kan användas för att hålla en kalibreringsstandard med rena grundämnen och/eller kända föreningar.

Specifikationer för EM-Tec toppreferenshållare:

Universell provhållarsats

EM-Tec U2 universella SEM-provhållare och SEM-stubadapterkit har utvecklats för att hålla ett stort antal olika SEM-prover upp till 42mm. Proverna kan vara plana, runda, blockformade eller oregelbundet formade. I detta kit ingår även ett användbart urval av SEM-stubadaptrar som möjliggör användning av kitet på praktiskt taget alla SEM. Fullt kompatibelt med FEI/Philips, JEOL, Hitachi, Tescan, Zeiss/LEO och andra SEM-varumärken.

Idealiskt lämpad för: